Elcometer345涂层测厚仪为应用非常广泛的仪器。具有整体式与分离式两种形式探头，可测量铁基（F）、非铁基（F）或铁基及非铁基（FNF）材料的涂层厚度，总会有一种仪器满足用户的各种要求。该仪器按照操作者角度进行设计，使用简单。用户可自定义简单的数据统计，可复查平均值、标准偏差、读数的个数和最大、最小读数。这些统计数据可以打印输出。